德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機 PI1M 13°x8°

德國OPTRIS歐普士 精密短波長紅外相機 PI1M 13°x8°

Optris PI 1M 是一款短波長紅外相機，在測量熱金屬、鋼、陶瓷和半導體的表面溫度方面表現(xiàn)*，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸式熱成像。optris PI 1M 熱像儀特別適用于金屬加工應用中的溫度測量。它在 1 μm 的短測量波長下表現(xiàn)出的發(fā)射率明顯高于在傳統(tǒng)紅外長波長范圍內(nèi)進行測量時的發(fā)射率。在熱過程可視化的同時，快速傳感器電子元件可實現(xiàn)低至 1 ms 的短反應時間。它通過配備 USB 以及模擬和數(shù)字過程接口，實現(xiàn)無縫集成到控制系統(tǒng)和制造過程中。

高動態(tài) CMOS 探測器，分辨率高達 764 x 480 像素

1 μm 的光譜靈敏度

450°C 至 1800°C 的寬測量范圍，無子范圍

高達 1 kHz 的幀速率，可實現(xiàn)快速處理

模擬和數(shù)字輸出，響應時間為 1 ms

線掃描功能

Optris PI 1M 是一款結合了創(chuàng)新、經(jīng)濟性和精度的短波長紅外相機。它擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸式熱成像，在短波長紅外范圍 （1M： 0.85 – 1.1 μm） 內(nèi)工作。這款前瞻性紅外熱像儀經(jīng)過專門設計，可捕獲測量數(shù)據(jù)，以便對熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體進行的表面溫度分析。它憑借其寬廣的高溫測量范圍、*的精度和可定制的視場配置，滿足了各種行業(yè)的嚴格要求。

許多由非閃亮材料制成的測量物體無論其表面一致性如何，都表現(xiàn)出較高且相對恒定的發(fā)射率，尤其是在長波光譜范圍內(nèi)。然而，金屬和有光澤的材料在長紅外波長下通常具有低發(fā)射率。長波長紅外帶寬的低發(fā)射率會導致測量結果變化且不可靠。此外，Optris PI 1M 專為金屬基增材制造應用而設計。它與可選的陷波濾光片兼容，使紅外熱像儀幾乎適用于所有激光加工應用。

短波長 PI 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的*發(fā)射率一致，簡化了遠程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波長范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射呈指數(shù)級增長。因此，線性發(fā)射率問題對短波長下溫度測量結果的可重復性影響較小。這提高了溫度測量的可靠性和準確性，特別是使用PI 1M紅外熱像儀時，特別是對于金屬材料。因此，對于高溫下光亮材料的非接觸式溫度測量，建議盡可能使用短波紅外熱像儀，因為它們的溫度測量范圍更廣，更適合光亮表面。PI 1M 紅外熱像儀在德國精心設計和制造，以滿足具有挑戰(zhàn)性的工業(yè)應用需求。它在精度、準確度和可重復性方面越了長波長紅外熱像儀，使其成為在苛刻環(huán)境中進行高性能溫度測量的*。